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S1-552/2美國(guó)Megger (AVO)絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): |
S1-552/2 |
價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 |
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所 在 地: |
上海 |
更新日期: |
2025-05-16 |
S1-552美國(guó)Megger (AVO)|絕緣電阻測(cè)試儀S1552/2|電阻測(cè)試儀S1-552/2
簡(jiǎn)單介紹
測(cè)試電壓:50V~5000V
測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1000V-5000V的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測(cè)試電阻(阻抗)顯示*大讀數(shù)15TΩ ,顯示*小讀數(shù)10KΩ
短路電流:5mA
實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓,電流和阻抗
美國(guó)Megger (AVO)絕緣電阻測(cè)試儀S1-552/2的詳細(xì)介紹 |
美國(guó)Megger (AVO)S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀(高壓兆歐表)
(替代S1-5001、S1-5005)
產(chǎn)品功能:
▲測(cè)試電壓:50V~5000V
測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1000V-5000V的范圍里以25V步進(jìn)遞增
▲測(cè)試電阻(阻抗)顯示*大讀數(shù)15TΩ ,顯示*小讀數(shù)10KΩ
▲短路電流:5mA
▲抗干擾:2mA rms
▲市電交流電源95-260V, 50/60Hz或者內(nèi)置電池供電
▲數(shù)字和模擬雙重顯示,大型背光LCD顯示屏
▲自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測(cè)試
▲顯示測(cè)試電壓
▲顯示試品充電時(shí)間
▲顯示充電電流
▲自動(dòng)測(cè)量絕緣電阻
▲DAR吸收比測(cè)試(介電吸收率)
▲PI 極化指數(shù)測(cè)試
▲SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測(cè)試
▲DD 測(cè)試(介質(zhì)放電)等參數(shù)的測(cè)量
▲顯示時(shí)間
▲時(shí)間控制
▲實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓,電流和阻抗
▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器,可保存測(cè)試結(jié)果:電壓.測(cè)試時(shí)間.泄漏電流.阻抗.電容,PI, DAR, DD
▲通過(guò)MEGGER的下載軟件可以通過(guò)RS232端口和USB端口把測(cè)試結(jié)果下載到電腦中
▲預(yù)先編制的診斷絕緣測(cè)試程序?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)安全操作
產(chǎn)品特性和應(yīng)用:
▲是具備計(jì)時(shí)器控制的測(cè)試儀
▲測(cè)試儀內(nèi)具備充電電池,充足電的電池可供至少6小時(shí)的測(cè)試
▲可達(dá)99分鐘的測(cè)試計(jì)時(shí)器可被用來(lái)停止測(cè)試,不用操作人員介入
▲牢固的測(cè)試儀外殼及附帶儲(chǔ)藏箱,抗氣候影響
▲S1-552/2 5kV絕緣電阻測(cè)試儀是Megger *新設(shè)計(jì)用來(lái)測(cè)試和維護(hù)高壓電氣設(shè)備的儀器外殼人性化設(shè)計(jì),讓使用者運(yùn)輸或者使用的時(shí)候都非常方便,其外殼的設(shè)計(jì)符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。
▲此外,儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊,方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。
▲儀器帶有一個(gè)很大的,便于讀數(shù)的背光LCD顯示屏,讓使用者在光線很差的環(huán)境中也能清晰的讀出讀數(shù)。
▲顯示的信息包括電阻,電壓,泄漏電流,電容,電池狀態(tài)和時(shí)間。
▲此外,儀器還會(huì)顯示試驗(yàn)已用的時(shí)間,這就不需要額外加一個(gè)計(jì)時(shí)器來(lái)計(jì)算時(shí)間。
▲儀器可由220V電源供電,也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候,都可以來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子,使儀器能提高其精確性。
▲儀器的控制的操作都清楚的寫(xiě)在儀器隨機(jī)器附帶的說(shuō)明書(shū)里面。
▲為了進(jìn)一步增強(qiáng)儀器的適應(yīng)性,儀器的電壓設(shè)置可以以25V或50V為步長(zhǎng)來(lái)設(shè)置所需要的電壓,這樣就不需要進(jìn)行低電壓測(cè)試的時(shí)候需要另外購(gòu)買(mǎi)儀器來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
▲儀器的IR功能設(shè)置使儀器能符合*高的安全標(biāo)準(zhǔn)和達(dá)到EN61010標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)儀器測(cè)試電壓高于50V的時(shí)候,儀器就會(huì)顯示高壓警告。在測(cè)試完成后,儀器電壓自動(dòng)降為0,其內(nèi)的放電回路自動(dòng)放電。
產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo):
輸入電壓 |
95-240 V 50Hz |
電池壽命 |
在5 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作6小時(shí) |
測(cè)試電壓(DC) |
50 V 到1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, |
1 kV 到5 kV 以25V為步進(jìn)電壓 |
精度 |
±5% 在1 TΩ范圍內(nèi) |
(23°C) |
±20% 在10 TΩ范圍內(nèi) |
短路電流 |
5mA |
充電時(shí)間 |
在5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF |
放電時(shí)間 |
放電從5000 V 到50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF |
電容測(cè)量 |
10 nF 到50 μF (取決于測(cè)試電壓) |
電容測(cè)量精度 |
±5% ±5 nF |
(23°C) |
電壓輸出精度 |
+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load |
(0°C-30°C) |
±25 V for test voltages less than 500 V |
測(cè)試電流范圍 |
0.01m A 到5 mA |
測(cè)量電流精度 |
±5% ±0.2 mA |
(23°C) |
顯示 |
3位數(shù)字/模擬顯示 |
抗干擾 |
2mA rms @ 200 V |
定時(shí)器范圍 |
*高定時(shí)間99:59 |
內(nèi)存容量 |
32KB |
其它測(cè)試性能 |
IR、PI、DAR、SV 、DD |
傳輸接口 |
RS232 和USB |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) |
電壓,測(cè)試時(shí)間,泄漏電流,阻抗,電容,PI, DAR, DD |
實(shí)時(shí)輸出 |
能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓,電流和阻抗 |
外形尺寸 |
305 mm ×194 mm ×360 mm |
重量 |
約7.1kg |
產(chǎn)品持有證書(shū) |
CE |
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